GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

标准详情：

GB/T 17444-2013

国家标准推荐性

中文名称：红外焦平面阵列参数测试方法
CCS分类：L52
ICS分类：31.260
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
代替标准：代替GB/T 17444-1998
技术归口：工业和信息化部（电子）
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学光电子学、激光设备

内容简介

国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所、

起草人

丁瑞军、梁平治、曹妩媚、殷建军、唐红兰、陈洪雷、

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