GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法

标准详情：

GB/T 15651.3-2003

国家标准推荐性

中文名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
CCS分类：L50
ICS分类：31.260
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学光电子学、激光设备

内容简介

国家标准《半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。

起草单位

华禹光谷股份有限公司半导体厂、

起草人

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