GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

标准详情:

GB/T 19403.1-2003

国家标准推荐性
  • 中文名称:半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:2003-11-24
    实施日期:2004-08-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
进行内部目检的目的是检验集成电路的内部材料、结构和工艺,验证与适用的规范要求的一致性。 通常应在封帽或密封之前对器件进行100%内部目检。以发现可能导致器件在正常使用时失效的内部缺陷并剔除相应器件。本试验也可按抽样方式在封帽之前使用,以确定承制方对半导体器件质量控制和操作程序的有效性。

起草单位

信息产业部第四研究所、

起草人

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