SJ/T 10274-1991 掩模对准曝光机测试方法

标准详情:

SJ/T 10274-1991

行业标准-SJ 电子推荐性
  • 中文名称:掩模对准曝光机测试方法
  • CCS分类:
    ICS分类:
  • 发布日期:1991-11-12
    实施日期:1992-01-01
  • 代替标准:
    行业分类:
  • 技术归口:
    发布部门:电子工业部
  • 标准分类:SJ 电子

内容简介

行业标准《掩模对准曝光机测试方法》,主管部门为电子工业部。
本标准规定了测试掩模对准曝光机的一般要求和方法。 本标准适用于接触式和接触一接近式曝光机。

起草单位

起草人

相近标准

GB/T 16524-1996 光掩模对准标记规范
20202799-T-469 单体液晶测试方法
20202714-T-450 头部防护 通用测试方法
20204845-T-339 嵌入式基板测试方法
20180213-T-339 电子材料、印制板及其组装件的测试方法 第5部分:印制板组装件的测试方法
20201440-T-604 分离机械噪声测试方法
20182280-T-339 微波电路 限幅器测试方法
20200564-T-604 离心机 性能测试方法
20162600-T-314 矫形鞋 测试方法与要求

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」