SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法

内容简介

行业标准《键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法》，主管部门为电子工业部。
本标准适用于键合金丝中银、铜、钙、镁、锰、铁、铋、铅元素的测定。其测定范围：铅、铋为0．0008％～0.0500％，其余为0．0005～0．0500％。

起草单位

起草人

相近标准

EJ/T 20170-2018 金属铀中20种微量杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
EJ/T 1212.4-2008 烧结氧化钆-二氧化铀芯块分析方法 第4部分：微量杂质元素的测定—ICP-AES多元图谱拟合法
GB/T 13372-1992 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICP-AES 法
SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
SN/T 2081-2008 氧化铝中杂质元素含量的测定 微波溶样ICP-AES法
GB/T 30902-2014 无机化工产品 杂质元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
GB/T 24794-2009 照相化学品 有机物中微量元素的分析 电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法