JB/T 8270-1995 静电复印光导体膜层厚度测量方法

标准详情：

JB/T 8270-1995

行业标准-JB 机械推荐性

中文名称：静电复印光导体膜层厚度测量方法
CCS分类：
ICS分类：
发布日期：1996-04-14
实施日期：1996-04-14
代替标准：代替GB10998-1989
行业分类：
技术归口：
发布部门：机械工业部
标准分类：JB 机械

内容简介

行业标准《静电复印光导体膜层厚度测量方法》，主管部门为机械工业部。

起草单位

起草人

相近标准

JB/T 8270-1999 静电复印光导体膜层厚度测量方法
JB/T 5533-2007 静电复印硒鼓膜层附着力试验方法
JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法
YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
JB/T 8271-2015 静电复印光导体表面缺陷比对版
JB/T 5533-1991 静电复印硒鼓膜层附着力试验方法
JB/T 8392-1996 静电复印干式色调剂熔融指数测量方法
JB/T 8268-1995 静电复印感光体表面缺陷测量方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错