JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法
标准详情:
JB/T 9495.7-1999
行业标准-JB 机械推荐性现行
- 中文名称:光学晶体光学均匀性测量方法
- CCS分类:
- ICS分类:
- 发布日期:1999-08-06
- 实施日期:2000-01-01
- 代替标准:代替ZB N05 001.7-1986
- 行业分类:
- 技术归口:
- 发布部门:国家机械工业局
- 标准分类:JB 机械
内容简介
行业标准《光学晶体光学均匀性测量方法》,主管部门为国家机械工业局。
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为:△η=±1×10^(-6)。
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