JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法

标准详情:

JB/T 9495.7-1999

行业标准-JB 机械推荐性
  • 中文名称:光学晶体光学均匀性测量方法
  • CCS分类:
    ICS分类:
  • 发布日期:1999-08-06
    实施日期:2000-01-01
  • 代替标准:代替ZB N05 001.7-1986
    行业分类:
  • 技术归口:
    发布部门:国家机械工业局
  • 标准分类:JB 机械

内容简介

行业标准《光学晶体光学均匀性测量方法》,主管部门为国家机械工业局。
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为:△η=±1×10^(-6)。

起草单位

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