JB/T 8270-1999 静电复印光导体膜层厚度 测量方法

标准详情:

JB/T 8270-1999

行业标准-JB 机械推荐性
  • 中文名称:静电复印光导体膜层厚度 测量方法
  • CCS分类:
    ICS分类:
  • 发布日期:1999-08-06
    实施日期:2000-01-01
  • 代替标准:代替JB/T 8270-1995
    行业分类:
  • 技术归口:
    发布部门:国家机械工业局
  • 标准分类:JB 机械

内容简介

行业标准《静电复印光导体膜层厚度 测量方法》,主管部门为国家机械工业局。

起草单位

起草人

相近标准

JB/T 8270-1995 静电复印光导体膜层厚度 测量方法
JB/T 5533-2007 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法
JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法
YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
JB/T 8271-2015 静电复印光导体表面缺陷比对版
JB/T 5533-1991 静电复印硒鼓膜层附着力试验方法
JB/T 8392-1996 静电复印干式色调剂熔融指数测量方法
JB/T 8268-1995 静电复印感光体表面缺陷 测量方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」