JB/T 9495.3-1999 光学晶体透过率测量方法

标准详情:

JB/T 9495.3-1999

行业标准-JB 机械推荐性
  • 中文名称:光学晶体透过率测量方法
  • CCS分类:
    ICS分类:
  • 发布日期:1999-08-06
    实施日期:2000-01-01
  • 代替标准:代替ZB N05 001.3-1985
    行业分类:
  • 技术归口:
    发布部门:国家机械工业局
  • 标准分类:JB 机械

内容简介

行业标准《光学晶体透过率测量方法》,主管部门为国家机械工业局。
u3000u3000本标准适用于利用分光光度计测量光学晶体的透过率。画出透过率曲线,并给出0.2和0.5透过率数值。

起草单位

起草人

相近标准

HG/T 5077-2016 光学功能薄膜 近红外光谱透过率的测量方法
JB/T 9495.2-1999 光学晶体折射率测量方法
GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法
WJ/T 742-2014 光学仪器用胶透过率试验方法
JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法
20221208-T-604 光学晶体 紫外级氟化钙晶体
JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射测量方法
JB/T 9495.5-1999 光学晶体散射颗粒度测量方法
JB/T 9495.6-1999 光学晶体光吸收系数测量方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」