SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
标准详情：
SJ/T 11212-1999
行业标准-SJ 电子推荐性现行
- 中文名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- CCS分类：
- ICS分类：
- 发布日期：1999-08-26
- 实施日期：1999-12-01
- 代替标准：
- 行业分类：
- 技术归口：
- 发布部门：信息产业部
- 标准分类：SJ 电子
内容简介
行业标准《石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量》，主管部门为信息产业部。
本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
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