SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理

标准详情：

SJ/T 10804-2000

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
CCS分类：
ICS分类：
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
代替标准：代替SJ/T 10804-1996
行业分类：
技术归口：
发布部门：信息产业部
标准分类：SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理》，主管部门为信息产业部。
本规范规定了半导体集成电路电子转换器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路双极型电子转换器电特性的测试。

起草单位

起草人

相近标准

GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错