EJ/T 1204.2-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量
标准详情:
EJ/T 1204.2-2006
行业标准-EJ 核工业推荐性现行
- 中文名称:电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量
- CCS分类:Z33
- ICS分类:
- 发布日期:2006-12-15
- 实施日期:2007-05-01
- 代替标准:
- 行业分类:
- 技术归口:核工业标准化研究所
- 发布部门:国防科学技术工业委员会
- 标准分类:EJ 核工业
内容简介
行业标准《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量》由核工业标准化研究所归口上报,主管部门为国防科学技术工业委员会。
本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值,用以评估考虑、样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。本部分适用于考虑样品处理影响的计数测量。
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