SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

标准详情：

SJ/T 11399-2009

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体发光二极管芯片测试方法
CCS分类：L45
ICS分类：
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：中国电子技术标准化研究所
发布部门：工业和信息化部
标准分类：SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体发光二极管芯片测试方法》由中国电子技术标准化研究所归口上报，主管部门为工业和信息化部。
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人

鲍超、胡爱华

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