SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

标准详情：

SJ/T 11471-2014

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：发光二极管外延片测试方法
CCS分类：H83
ICS分类：
发布日期：2014-10-14
实施日期：2015-04-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：SJ 电子

内容简介

行业标准《发光二极管外延片测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

起草单位

上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司

起草人

潘尧波、丁晓民

相近标准

SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片
20220134-T-469 碳化硅外延片
20220133-T-469 埋层硅外延片
GB/T 30655-2014 氮化物LED外延片内量子效率测试方法
GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
GB/T 14139-2019 硅外延片
GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片
20203728-T-469 碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法
GB/T 35310-2017 200mm硅外延片

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错