SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法

标准详情：

SJ/T 11632-2016

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
CCS分类：H21
ICS分类：77.040
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部
标准分类：冶金金属材料试验 SJ 电子

内容简介

行业标准《太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样前，需由供需双方协商。

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司等

起草人

熊伟、贺东江、卫国军等

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