SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

标准详情：

SJ/T 11703-2018

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
CCS分类：L55
ICS分类：31.2
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
代替标准：
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
技术归口：全国集成电路标准化分技术委员会
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学信息传输、软件和信息技术服务业 SJ 电子

内容简介

行业标准《数字微电子器件封装的串扰特性测试方法》由全国集成电路标准化分技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间，测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻抗已知时，适用于多种逻辑系列产品。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

起草人

王琪、张崤君、贾松良等

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