SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

标准详情：

SJ/T 11765-2020

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：晶体管低频噪声参数测试方法
CCS分类：L42，L44
ICS分类：31.080.30
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件三极管 SJ 电子

内容简介

行业标准《晶体管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人

罗宏伟、胡为、王小强等

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