JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范

标准详情:

JJF 1254-2010

计量标准
  • 中文名称:数显测高仪校准规范
  • 标准号:JJF 1254-2010
    标准状态:现行
  • 发布日期:2010-05-11
    归口单位全国几何量工程参量计量技术委员会
  • 实施日期:2010-11-11
    发布部门:国家市场监督管理总局
  • 代替标准:
    标准类别:计量检定规程
  • 文件格式:纸质版或者PDF电子版(用Acrobat Reader打开)或Word版本doc格式

内容简介

本规范适用于分辨力为0.1 μm、0.2 μm、0.5 μm和1 μm,量程0 mm至1 000 mm的数显测高仪的校准。

起草单位

中国科学院光电技术研究所

起草人

匡龙、耿丽红、曹学东

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