GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
标准详情：
- 中文名称：硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- CCS分类：H80
- ICS分类：29.045
- 发布日期：2009-10-30
- 实施日期：2010-06-01
- 代替标准：代替GB/T 6617-1995
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：电气工程半导体材料
内容简介
国家标准《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
u3000u3000本标准规定了硅片电阻率的扩展电阻探针测量方法。 u3000u3000本标准适用于测量晶体晶向与导电类型已知的硅片的电阻率和测量衬底同型或反型的硅片外延层的电阻率，测量范围:10 Ωcm～10 Ω·cm。
起草单位
南京国盛电子有限公司、宁波立立电子股份有限公司、
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