标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- YS/T 1510-2021高纯锗粉
- 现行
2021-12-022022-04-01 - YS/T 724-2016多晶硅用硅粉
- 现行
2016-07-112017-01-01 - YS/T 1167-2016硅单晶腐蚀片
- 现行
2016-07-112017-01-01 - YS/T 1160-2016工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
- 现行
2016-07-112017-01-01 - SJ/T 11552-2015以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 11495-2015硅中间隙氧的转换因子指南
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11502-2015碳化硅单晶抛光片规范
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11494-2015硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11500-2015碳化硅单晶晶向的测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11501-2015碳化硅单晶晶型的测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11505-2015蓝宝石单晶抛光片规范
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11498-2015重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11497-2015砷化镓晶片热稳定性的试验方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11491-2015短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11496-2015红外吸收法测量砷化镓中硼含量
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11490-2015低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11503-2015碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11493-2015硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
- 现行
2015-04-302015-10-01