GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法

标准详情：

GB/T 14141-2009

国家标准推荐性

中文名称：硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法
CCS分类：H80
ICS分类：29.045
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
代替标准：代替GB/T 14141-1993
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：电气工程半导体材料

内容简介

国家标准《硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
u3000u3000本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。 u3000u3000本标准适用于测量直径大于15.9 mm的由外延、扩散、离子注入到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10Ω～5000 Ω。该方法也可适用于更高或更低阻值方块电阻的测量，但其测量精确度尚未评估。

起草单位

宁波立立电子股份有限公司、信息产业部专用材料质量监督检验中心、南京国盛电子有限公司、

起草人

李慎重、许峰、马林宝、何秀坤、刘培东、谌攀、

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