GB/T 42518-2023 锗酸铋（BGO）晶体痕量元素化学分析辉光放电质谱法

标准详情：

GB/T 42518-2023

国家标准推荐性

中文名称：锗酸铋（BGO）晶体痕量元素化学分析辉光放电质谱法
CCS分类：G04
ICS分类：71.040.40
发布日期：2023-05-23
实施日期：2023-09-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《锗酸铋（BGO）晶体痕量元素化学分析辉光放电质谱法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了采用辉光放电质谱法（GD-MS）测量锗酸铋（BGO）晶体中杂质元素的方法。本文件适用于BGO晶体材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测定范围为 0.001μg/g ~ 1000μg/g（质量分数）。通过合适的标准样品校正，也适用于测量质量分数大于1000μg/g的杂质元素含量。

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波新材料测试评价中心有限公司、

起草人

卓尚军、钱荣、杨秋、时晓露、朱月琴、盛成、沈世音、

相近标准

GB/T 39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
XB/T 628-2020 高纯稀土金属化学分析方法痕量元素含量的测定辉光放电质谱法
YS/T 1288.4-2018 高纯锌化学分析方法第4部分：痕量元素含量的测定辉光放电质谱法
GB/T 33236-2016 多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法
20232191-T-610 镍合金化学分析方法第10部分：痕量元素含量的测定辉光放电质谱法
YS/T 923.2-2013 高纯铋化学分析方法第2部分：痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法
YS/T 35-2012 高纯锑化学分析方法镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定高质量分辨率辉光放电质谱法
GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法第3部分:痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法
YS/T 899-2013 高纯钽化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法
YS/T 1473-2021 高纯钼化学分析方法？痕量杂质元素的测定？辉光放电质谱法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错