GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法

标准详情：

GB/T 42838-2023

国家标准推荐性

中文名称：半导体集成电路霍尔电路测试方法
CCS分类：L56
ICS分类：31.200
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
代替标准：
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路霍尔电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所、

起草人

尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明、

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