GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱
标准详情：
- 中文名称：锗晶体缺陷图谱
- CCS分类：H80
- ICS分类：29.045
- 发布日期：2018-12-28
- 实施日期：2019-07-01
- 代替标准：代替GB/T 8756-1988
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会,全国有色金属标准化技术委员会
- 发布部门：中国有色金属工业协会
- 标准分类：电气工程半导体材料
内容简介
国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工过程中产生的缺陷，给出了各类缺陷的特征、产生原因及消除方法。本标准适用于区熔锗锭、锗单品、锗研磨片和锗抛光片生产过程中产生的缺陷。
起草单位
云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、广东先导稀材股份有限公司、有色金属技术经济研究院、有研光电新材料有限责任公司、中锗科技有限公司、云南东昌金属加工有限公司、
起草人
普世坤、惠峰、柯尊斌、尹士平、董汝昆、冯德伸、朱刘、李素青、
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