GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

标准详情：

GB/T 14028-2018

国家标准推荐性

中文名称：半导体集成电路模拟开关测试方法
CCS分类：L56
ICS分类：31.200
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
代替标准：代替GB/T 14028-1992
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司、

起草人

张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉、

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