GB/T 4937.15-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热
标准详情:
GB/T 4937.15-2018
国家标准推荐性现行
- 中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热
- CCS分类:L40
- ICS分类:31.080.01
- 发布日期:2018-09-17
- 实施日期:2019-01-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 4937的本部分规定了耐焊接热的试验方法,以确定通孔安装的固态封装器件承受波峰焊或 烙铁焊接引线时产生的热应力的能力。为制定具有可重复性的标准试验程序,选用试验条件较易控制的浸焊试验方法。本程序为确定器 件组装到电路板时对所需焊接温度的耐受能力,要求器件的电性能不产生退化且内部连接无损伤。本试验为破坏性试验,可以用于鉴定、批接收及产品检验。本试验与IEC60068-2-20基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院、
起草人
高金环、彭浩、高兆丰、崔波、周刚、柳华光、黄杰、张威、陈得民、
相近标准
GB/T 4937.20-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
GB/T 4937.201-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法
20141819-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮
20141817-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击
20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封
20162479-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环
20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。