GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准详情：
GB/T 14031-1992
国家标准推荐性现行
- 中文名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
- CCS分类：L55
- ICS分类：31.200
- 发布日期：1992-12-17
- 实施日期：1993-08-01
- 代替标准：
- 技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学集成电路、微电子学
内容简介
国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。
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