GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

起草单位

天津大学、

起草人

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