GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

起草单位

上海科技大学、

起草人

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