GB/T 7196-1987 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法

标准详情:

GB/T 7196-1987

国家标准推荐性
  • 中文名称:用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法
  • CCS分类:K10
    ICS分类:
  • 发布日期:1987-01-21
    实施日期:1987-12-01
  • 代替标准:被GB/T 7196-2012全部代替
  • 技术归口:全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会
    发布部门:中国电器工业协会
  • 标准分类:

内容简介

国家标准《用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法》由TC301(全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会)归口,主管部门为中国电器工业协会。
本标准适用于测定电气绝缘材料中离子化的可溶性有机或无机物质,根据萃取溶液的体积电导率的增加来证明它们的存在。该试验对浸于致冷剂或浸渍剂中的电气绝缘材料具有特殊意义。

起草单位

桂林电器所、

起草人

相近标准

GB/T 7196-2012 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法
JB/T 8630-1997 用差示扫描量热法测定电气绝缘材料的熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法
GB/T 10582-2008 电气绝缘材料 测定因绝缘材料引起的电解腐蚀的试验方法
20214141-T-604 电气用未使用过的硅绝缘液体
NB/T 25097-2018 核电厂用离子交换树脂中金属杂质含量的测定方法
QB/T 4339-2012 鞋类 化学试验方法 可萃取重金属含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
20221294-T-604 严酷环境条件下使用的电气绝缘材料 评定耐电痕化和蚀损的试验方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」