GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
标准详情：
GB/T 25185-2010
国家标准推荐性现行
- 中文名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
- CCS分类：G04
- ICS分类：71.040.40
- 发布日期：2010-09-26
- 实施日期：2011-08-01
- 代替标准：
- 技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：化工技术分析化学化学分析
内容简介
国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
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