GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
标准详情:
GB/T 4937.4-2012
国家标准推荐性现行
- 中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
- CCS分类:L40
- ICS分类:31.080.01
- 发布日期:2012-11-05
- 实施日期:2013-02-15
- 代替标准:
- 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
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