GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

标准详情:

GB/T 14620-2013

国家标准推荐性
  • 中文名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  • CCS分类:L90
    ICS分类:31.030
  • 发布日期:2013-11-12
    实施日期:2014-04-15
  • 代替标准:代替GB/T 14620-1993
  • 技术归口:工业和信息化部(电子)
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、

起草人

曹易、李晓英、

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