SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则
标准详情:
SJ/T 10457-1993
行业标准-SJ 电子推荐性现行
- 中文名称:俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则
- CCS分类:
- ICS分类:
- 发布日期:1993-12-17
- 实施日期:1994-06-01
- 代替标准:
- 行业分类:
- 技术归口:
- 发布部门:电子工业部
- 标准分类:SJ 电子
内容简介
行业标准《俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则》,主管部门为电子工业部。
本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。 本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的范围。
相近标准
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法
20221773-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述
GB/T 35158-2017 俄歇电子能谱仪检定方法
20214943-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱和x 射线光电子能谱 测定峰强度的方法 和报告结果所需的信息
GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。