SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准详情：
SJ/T 11207-1999
行业标准-SJ 电子推荐性现行
- 中文名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
- CCS分类：
- ICS分类：
- 发布日期：1999-08-26
- 实施日期：1999-12-01
- 代替标准：
- 行业分类：
- 技术归口：
- 发布部门：信息产业部
- 标准分类：SJ 电子
内容简介
行业标准《钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法》，主管部门为信息产业部。
本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。
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