SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法

标准详情:

SJ/T 11210-1999

行业标准-SJ 电子推荐性
  • 中文名称:石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
  • CCS分类:
    ICS分类:
  • 发布日期:1999-08-26
    实施日期:1999-12-01
  • 代替标准:
    行业分类:
  • 技术归口:
    发布部门:信息产业部
  • 标准分类:SJ 电子

内容简介

行业标准《石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算》,主管部门为信息产业部。
本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f|(L)和负载谐振电阻R|(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△F|(L),频率牵引范围△f|(L|(1)L|(2))和牵引灵敏度S。

起草单位

起草人

相近标准

GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量
20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
20181780-T-339 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量
SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
20214732-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第6部分 有热敏电阻的晶体元件

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」