EJ/T 1204.3-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量

标准详情:

EJ/T 1204.3-2006

行业标准-EJ 核工业推荐性
  • 中文名称:电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量
  • CCS分类:Z33
    ICS分类:
  • 发布日期:2006-12-15
    实施日期:2007-05-01
  • 代替标准:
    行业分类:
  • 技术归口:核工业标准化研究所
    发布部门:国防科学技术工业委员会
  • 标准分类:EJ 核工业

内容简介

行业标准《电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量》由核工业标准化研究所归口上报,主管部门为国防科学技术工业委员会。
本部分规定了两个表征给定错误概率的统计值,用以在不考虑样品处理的影响的情况下,利用高分辨率γ能谱法进行电离辐射测量中,对探测能力进行评估。本部分适用于利用高分辨率γ能谱进行计数测量时探测限和判断阙的确定。

起草单位

核工业标准化研究所

起草人

张立波、李景云

相近标准

EJ/T 1204.1-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量
EJ/T 1204.4-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第4部分:忽略样品处理影响的线性标度模拟率表测量
EJ/T 1204.2-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量
GB/T 26168.3-2010 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第3部分:辐射环境下应用的分级体系
GB/T 41105.3-2021 无损检测 X射线管电压的测量和评价 第3部分:能谱法
JB/T 11602.3-2013 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第3部分:能谱检测
GB/T 18271.3-2017 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验
GB/T 17214.3-2000 工业过程测量和控制装置的工作条件 第3部分:机械影响
GB/T 26168.2-2018 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第2部分:辐照和试验程序

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」