SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

标准详情：

SJ/T 11394-2009

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体发光二极管测试方法
CCS分类：L45
ICS分类：
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
代替标准：代替SJ/T 2355.1～2355.7-1983
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体发光二极管测试方法》由中国电子技术标准化研究所归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。

起草单位

广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

周钢、牟同升、赵英等

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