SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度

标准详情：

SJ/T 2658.8-2015

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度
CCS分类：L53
ICS分类：31.080
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
代替标准：代替SJ/T 2658.8-1986
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件 SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本部分规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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