SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法第1部分：总则

标准详情：

SJ/T 2658.1-2015

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体红外发射二极管测量方法第1部分：总则
CCS分类：L53
ICS分类：31.080
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
代替标准：代替SJ/T 2658.1-1986
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件 SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法第1部分：总则》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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