标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 6261-1998电子设备用固定电容器 第5部分:分规范 额定电压不超过3000伏的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求
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1998-11-021999-05-01 - GB/T 17208-1998电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝固定电容器 评定水平E
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 17206-1998电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 17210-1998电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 第一篇 空白详细规范
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 17209-1998电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 12560-1999半导体器件 分立器件分规范
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1999-08-022000-03-01 - GB/T 17711-1999钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法
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1999-03-131999-10-01 - GB/T 6427-1999压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 6426-1999铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 17562.1-1998频率低于3 MHz的矩形连接器 第1部分 总规范 一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
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1998-11-171999-07-01 - GB/T 2414.2-1998压电陶瓷材料性能试验方法 长条横向长度伸缩振动模式
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1998-11-101999-07-01 - GB/T 2414.1-1998压电陶瓷材料性能试验方法 圆片径向伸缩振动模式
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1998-11-101999-07-01 - GB/T 9424-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 7576-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6590-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6352-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6351-1998半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6219-1998半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6217-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01