标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 12272-1990射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
- 现行
1990-03-151990-10-01 - GB/T 12512-1990纤维光学衰减器 第一部分:总规范(可供认证用)
- 现行
1990-11-151991-07-01 - GB/T 12511-1990纤维光学开关 第一部分:总规范(可供认证用)
- 现行
1990-11-151991-07-01 - GB/T 12634-1990压电晶体电弹常数测试方法
- 现行
1990-12-281991-10-01 - GB/T 15871-1995硬面光掩模基板
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 15870-1995硬面光掩模用铬薄膜
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 15768-1995电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
- 现行
1995-12-081996-08-01 - GB/T 9313-1995数字电子计算机用阴极射线管显示设备通用技术条件
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 6428-1995氢闸流管测试方法
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 3788-1995真空电容器通用技术条件
- 现行
1995-12-081996-08-01 - GB/T 2471-1995电阻器和电容器优先数系
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 2470-1995电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法
- 现行
1995-12-221996-08-01 - GB/T 12300-1990功率晶体管安全工作区测试方法
- 现行
1990-03-151990-08-01 - GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用)
- 现行
1990-03-151990-10-01 - GB/T 4588.10-1995印制板 第10部分:有贯穿连接的刚挠双面印制板规范
- 现行
1995-12-211996-08-01 - GB/T 13943-1992荧光显示管总规范(可供认证用)
- 现行
1992-12-171993-08-01 - GB/T 14032-1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
- 现行
1992-12-171993-08-01 - GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
- 现行
1992-12-171993-08-01 - GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
- 现行
1992-12-171993-08-01 - GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
- 现行
1992-12-171993-08-01