标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
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- 现行
2021-11-222022-02-01 - T/CIE 116-2021电子元器件故障树分析方法与程序
- 现行
2021-11-222022-02-01 - T/CIE 118-2021多热源组件（MCM/SiP）热性能指标及评价方法
- 现行
2021-11-222022-02-01 - T/CIE 119-2021半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序
- 现行
2021-11-222022-02-01 - T/CIE 121-2021逆导型IGBT的热阻测试方法
- 现行
2021-11-222022-02-01 - T/CASAS 018-2021微纳米金属烧结连接件 剪切强度试验方法
- 现行
2021-11-012021-12-01 - T/CASAS 019-2021微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
- 现行
2021-11-012021-12-01 - T/CASAS 020-2021微纳米金属烧结体热导率试验方法 闪光法
- 现行
2021-11-012021-12-01 - T/IAWBS 004-2021电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
- 现行
2021-09-162021-09-23 - T/CPSS 1012-2021IGBT驱动器测试技术规范
- 现行
2021-08-272021-09-01 - T/ZZB 1976-2020风电变流器用液冷散热器
- 现行
2020-11-302020-12-30 - T/CASAS 007-2020电动汽车用碳化硅（SiC）场效应晶体管（MOSFET）模块评测规范
- 现行
2020-05-252020-05-25 - T/CASAS 003-2018p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
- 现行
2018-11-202018-11-20 - T/CASAS 004.1-20184H碳化硅衬底及外延层缺陷术语
- 现行
2018-11-202018-11-20 - T/CASAS 004.2-20184H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱
- 现行
2018-11-202018-11-20 - T/CASAS 009-2019半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
- 现行
2019-11-252019-11-25 - T/CASAS 010-2019氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
- 现行
2019-11-252019-11-25