GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

标准详情:

GB/T 43088-2023

国家标准推荐性
  • 中文名称:微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
  • CCS分类:G04
    ICS分类:71.040.50
  • 发布日期:2023-09-07
    实施日期:2024-04-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
    发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学物理化学分析方法

内容简介

国家标准《微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了利用透射电子显微镜(TEM)测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

起草单位

首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、

起草人

孟杨、 鞠新华、 马通达、 崔桂彬、 王泽鹏、 王雅晴、 朱国森、付新、史学星、闫贺、严春莲、

相近标准

GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
20231333-T-469 微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
20233280-T-469 微束分析 电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法
GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
20231548-T-469 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析
20231337-T-469 微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法
20241617-T-469 微束分析 体电子显微术 生物材料的聚焦离子束扫描电子显微镜三维成像方法
20233288-T-469 微束分析 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」