GB/T 4937.17-2018 半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照

标准详情：

GB/T 4937.17-2018

国家标准推荐性

中文名称：半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照
CCS分类：L40
ICS分类：31.080.01
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下：a）检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；b）确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内（见第4章）。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所、

起草人

席善斌、彭浩、杨善潮、金晓明、崔波、陈海蓉、陈伟、林东生、郭旗、陆妩、

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