GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
标准详情：
GB/T 5594.1-1985
国家标准推荐性现行
- 中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- CCS分类：L32
- ICS分类：
- 发布日期：1985-11-27
- 实施日期：1986-12-01
- 代替标准：
- 技术归口：工业和信息化部（电子）
- 发布部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：
内容简介
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
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