SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

标准详情:

SJ/T 2215-2015

行业标准-SJ 电子推荐性
  • 中文名称:半导体光电耦合器测试方法
  • CCS分类:L50
    ICS分类:31.080.1
  • 发布日期:2015-04-30
    实施日期:2015-10-01
  • 代替标准:代替SJ/T 2215.1~ 2215.14-1982
    行业分类:
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
    发布部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体光电耦合器测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了半导体光电合器(以下简称“器件”)的测试方法。本标准适用于半导体光电合器。

起草单位

中电子科技集团公第四十四研究所

起草人

马思华、欧熠、陈春霞 等

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