SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法

标准详情：

SJ/T 2354-2015

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
CCS分类：L54
ICS分类：31.180
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
代替标准：代替SJ/T 2354.1～ 2354.14-1983
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学印制电路和印制电路板 SJ 电子

内容简介

行业标准《ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了PIN、雪崩光电二极管（以下简称“二极管”）光电参数的测试方法。

起草单位

中电子科技集团公第四十四研究所

起草人

郭萍、崔大键、王波

相近标准

YD/T 0835-1996 雪崩光电二极管检测方法
GB/T 18904.5-2003 半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
YD/T 702-2018 PIN-FET光接收组件测试方法
GB/T 21078.4-2023 金融服务个人识别码管理与安全第4部分：核准的PIN加密算法
GB/T 21078.3-2011 银行业务个人识别码的管理与安全第3部分：开放网络中PIN处理指南
SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
QC/T 706-2004 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件
GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管试验方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错