SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法

标准详情：

SJ/T 11586-2016

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
CCS分类：L40
ICS分类：31.080.01
发布日期：2016-01-15
实施日期：2016-06-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
标准分类：半导体分立器件半导体分立器件综合 SJ 电子电子学

内容简介

行业标准《半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了使用X射线辐射源(平均能量约10keV，最大能量不超过100keV)对半导体器件(以下简称“器件”)进行总剂量电离辐照试验的方法和程序。本标准适用于半导体器件的总剂量电离辐照评估试验。本标准不适用于双极器件和电路的低剂量率总剂量辐照试验。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所

起草人

罗宏伟、何玉娟、恩云飞等

相近标准

GB/T 4937.18-2018 半导体器件机械和气候试验方法第18部分：电离辐照(总剂量)
20201546-T-339 半导体器件机械与气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
GB/T 12162.4-2010 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射第4部分：低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
EJ/T 805-1993 X射线荧光分析用低能光子源
SN/T 4070-2014 芒果、荔枝中桔小实蝇检疫辐照处理最低剂量
SN/T 1937-2007 进出口辐照猪肉杀囊尾蚴的最低剂量
SN/T 5397-2022 番石榴实蝇检疫辐照处理的最低吸收剂量
GB/T 4937.17-2018 半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照
SN/T 5543-2022 李比利氏灰粉蚧检疫辐照处理最低吸收剂量

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错