SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

标准详情：

SJ/T 11706-2018

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
CCS分类：L55
ICS分类：31.2
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
代替标准：
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学信息传输、软件和信息技术服务业 SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人

刘芳、尹航、胡海涛等

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